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Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains.

, , , , , , , , , , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 30 (3): 455-463 (2011)

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Using Launch-on-Capture for Testing Scan Designs Containing Synchronous and Asynchronous Clock Domains., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 30 (3): 455-463 (2011)MEMS Failure Probability Prediction and Quality Enhancement Using Neural Networks., und . ISQED, Seite 322-326. IEEE Computer Society, (2007)