Autor der Publikation

Verlässlichkeitsanalayse von Indikatorfunktionen in einem Automatisierten Multiskalen Meßsystem

, , , , , , und . tm - Technisches Messen, 77 (9): 493--499 (2010)
DOI: 10.1524/teme.2010.0033

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Definition and Design of an Automated Multiscale Measuring System, , , , , , und . euspen International Conference, 2, Seite 425-430. Zurich, Switzerland, (Mai 2008)Fusion multimodaler Daten am Beispiel eines Mikrolinsen-Arrays, , , , , , , , , und 5 andere Autor(en). tm - Technisches Messen, 75 (5): 346--359 (2008)An assistance system for the selection of sensors in multi-scale measurement systems, , , und . Proc. SPIE, (2010)13 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=11729316344759848032&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.4.3.1 Herausforderungen und Lösungsansätze für die fertigungsnahe Qualitätskontrolle mittels optischer 3D-Messtechnik, , , , , und . (2013)Multisensorisches Messsystem zur dreidimensionalen Inspektion technischer Oberflächen, , , , , , und . tm - Technisches Messen, 81 (6): 280--288 (2014)Reliability Analysis of Indicator Functions in an Automated Multiscale Measuring System, , , , , , und . (2010)Automated multiscale measurement system for MEMS characterisation, , , , und . Optical Micro-and …, (2010)14 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=1524075053293164982&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.Chromatic confocal spectral interferometry for technical surface characterization, , , und . Optical Inspection and …, (2009)11 cites: https://scholar.google.com/scholar?cites=16198342556063896427&as_sdt=2005&sciodt=0,5&hl=en.Optical metrology for process control: modeling and simulation of sensors for a comparison of different measurement principles, , , und . Optical Micro- and Nanometrology III, SPIE, (April 2010)Relibility Analysis of Indicator Functions in an Automated Multiscale Measuring System, , , , , , und . Opto, Nürnberg, Germany, (Mai 2009)