Autor der Publikation

Artificial neural networks and risk stratification: A promising combination.

, , , , und . Mathematical and Computer Modelling, 46 (1-2): 88-94 (2007)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Artificial neural networks and risk stratification: A promising combination., , , , und . Mathematical and Computer Modelling, 46 (1-2): 88-94 (2007)Exploring Geovisualization Symbology for Landscape Genetics., , , , und . Trans. GIS, 17 (2): 267-281 (2013)Simulation of 0.35 μm/0.25 μm CMOS Technology Doping Profiles., , , und . VLSI Design, 2001 (1): 459-463 (2001)A CAD assisted design and optimisation methodology for over-voltage ESD protection circuits., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). Microelectron. Reliab., 44 (9-11): 1885-1890 (2004)High frequency characterization and modelling of the parasitic RC performance of two terminal ESD CMOS protection devices., , , , , , , , und . Microelectronics Reliability, 43 (7): 1011-1020 (2003)NBTI reliability of Ni FUSI/HfSiON gates: Effect of silicide phase., , , , , , , und . Microelectronics Reliability, 47 (4-5): 505-507 (2007)Nonvolatile multilevel memories for digital applications., , , , , , und . Proc. IEEE, 86 (12): 2399-2423 (1998)ESD-RF co-design methodology for the state of the art RF-CMOS blocks., , , , , , , , und . Microelectronics Reliability, 45 (2): 255-268 (2005)