Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A 96Gb/s-Throughput Transceiver for Short-Distance Parallel Optical Links., , , , , , , , und . ISSCC, Seite 230-231. IEEE, (2008)A fully integrated pulsed-LASER time-of-flight measurement system with 12ps single-shot precision., , , , , , , , , und 2 andere Autor(en). CICC, Seite 359-362. IEEE, (2008)Monolithically Integrated RRAM- and CMOS-Based In-Memory Computing Optimizations for Efficient Deep Learning., , , , , , , , , und . IEEE Micro, 39 (6): 54-63 (2019)Film Bulk Acoustic-Wave Resonator based radiation sensor., , , , , , , und . NEMS, Seite 967-970. IEEE, (2010)Ag conductive bridge RAMs for physical unclonable functions., , , , , und . HOST, Seite 151. IEEE Computer Society, (2017)A Nonvolatile Sense Amplifier Flip-Flop Using Programmable Metallization Cells., , , , und . IEEE J. Emerg. Sel. Topics Circuits Syst., 5 (2): 205-213 (2015)Total ionizing dose effects in shallow trench isolation oxides., , , , , , und . Microelectronics Reliability, 48 (7): 1000-1007 (2008)Single event transient effects in a voltage reference., , , , , , und . Microelectronics Reliability, 45 (2): 355-359 (2005)Transient response exploration of SRAM cell metastable states caused by ionizing radiation with 3D mixed mode simulation., , und . ICECS, Seite 443-446. IEEE, (2014)Modeling Ionizing Radiation Effects in Solid State Materials and CMOS Devices., , , und . IEEE Trans. on Circuits and Systems, 56-I (8): 1870-1883 (2009)