PUMA

Akademisches Publikationsmanagement
Publikationen sammeln, verwalten und teilen.

( en | de )

 

Disambiguierung von "Makar, Samy"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Probability models for pseudorandom test sequences.

, , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 7 (1): 68-74 (1988)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Keine Personen gefunden für den Autorennamen Makar, Samy
Eine Person hinzufügen mit dem Namen Makar, Samy
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

On the Testing of Multiplexers., und . ITC, Seite 669-679. IEEE Computer Society, (1988)The critical path for multiple faults., und . ICCAD, Seite 162-165. IEEE Computer Society, (1989)Design for Testability and Testing of IEEE 1149.1 Tap Controller., , und . VTS, Seite 247-252. IEEE Computer Society, (2002)A layout-based approach for ordering scan chain flip-flops.. ITC, Seite 341-347. IEEE Computer Society, (1998)Floating Point Fault Tolerance with Backward Error Assertions., , , , und . IEEE Trans. Computers, 44 (2): 302-311 (1995)ATPG for scan chain latches and flip-flops., und . VTS, Seite 364-369. IEEE Computer Society, (1997)Self-repair of uncore components in robust system-on-chips: An OpenSPARC T2 case study., , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2013)Probability models for pseudorandom test sequences., , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 7 (1): 68-74 (1988)Functional Tests for Scan Chain Latches., und . ITC, Seite 606-615. IEEE Computer Society, (1995)Checking experiments to test latches., und . VTS, Seite 196-201. IEEE Computer Society, (1995)