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Time dependent variability in RMG-HKMG FinFETs: Impact of extraction scheme on stochastic NBTI.

A. Chaudhary, B. Kaczer, P. Roussel, T. Chiarella, N. Horiguchi, und S. Mahapatra. IRPS, Seite 3. IEEE, (2015)

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T. Benz

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