Autor der Publikation

Trades-off between lithography line edge roughness and error-correcting codes requirements for NAND Flash memories.

, , , , , , , und . Microelectronics Reliability, 52 (3): 525-529 (2012)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen