Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Radic: A standard-cell-based sensor for on-chip aging and flip-flop metastability measurements., , , , , , , und . ITC, Seite 1-9. IEEE Computer Society, (2012)Low-Transition Test Pattern Generation for BIST-Based Applications., , und . IEEE Trans. Computers, 57 (3): 303-315 (2008)Nine-coded compression technique for testing embedded cores in SoCs., , und . IEEE Trans. VLSI Syst., 13 (6): 719-731 (2005)Securing Designs against Scan-Based Side-Channel Attacks., , , und . IEEE Trans. Dependable Sec. Comput., 4 (4): 325-336 (2007)Guest Editors' Introduction: IR Drop in Very Deep-Submicron Designs., und . IEEE Design & Test of Computers, 24 (3): 214-215 (2007)A novel method for fast identification of peak current during test., , , , , und . VTS, Seite 191-196. IEEE Computer Society, (2012)Counterfeit Integrated Circuits: A Rising Threat in the Global Semiconductor Supply Chain., , , , , und . Proceedings of the IEEE, 102 (8): 1207-1228 (2014)Test-Pattern Selection for Screening Small-Delay Defects in Very-Deep Submicrometer Integrated Circuits., , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 29 (5): 760-773 (2010)BISA: Built-in self-authentication for preventing hardware Trojan insertion., und . HOST, Seite 45-50. IEEE Computer Society, (2013)Sensitivity Analysis to Hardware Trojans using Power Supply Transient Signals., , und . HOST, Seite 3-7. IEEE Computer Society, (2008)