Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

The 12-Core POWER8™ Processor With 7.6 Tb/s IO Bandwidth, Integrated Voltage Regulation, and Resonant Clocking.

E. Fluhr, S. Baumgartner, D. Boerstler, J. Bulzacchelli, T. Diemoz, D. Dreps, G. English, J. Friedrich, A. Gattiker, T. Gloekler, C. Gonzalez, J. Hibbeler, K. Jenkins, Y. Kim, P. Muench, R. Nett, J. Paredes, J. Pille, D. Plass, P. Restle, R. Robertazzi, D. Shan, D. Siljenberg, M. Sperling, K. Stawiasz, G. Still, Z. Deniz, J. Warnock, G. Wiedemeier, und V. Zyuban. IEEE J. Solid State Circuits, 50 (1): 10-23 (2015)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Anne Zerfass University of Stuttgart

Anne Beyer University of Stuttgart

Anne Preuschoff University of Stuttgart

Dr. -Ing. Anne Geppert University of Stuttgart

Anne Rickert University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

An oscillation-based test structure for timing information extraction.E. Jang, A. Gattiker, S. Nassif, und J. Abraham. VTS, Seite 74-79. IEEE Computer Society, (2012)Big data and test.A. Gattiker. ITC, Seite 1. IEEE Computer Society, (2014)5.5GHz system z microprocessor and multi-chip module.J. Warnock, Y. Chan, H. Harrer, D. Rude, R. Puri, S. Carey, G. Salem, G. Mayer, Y. Chan, M. Mayo und 13 andere Autor(en). ISSCC, Seite 46-47. IEEE, (2013)Invited paper: Yin and Yang of embedded sensors for post-scaling-era.A. Gattiker. VTS, Seite 324-327. IEEE Computer Society, (2011)Data Analysis Techniques for CMOS Technology Characterization and Product Impact Assessment.A. Gattiker, M. Bhushan, und M. Ketchen. ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2006)Using test data to improve IC quality and yield.A. Gattiker. ICCAD, Seite 771-777. IEEE Computer Society, (2008)Unstructured text: Test analysis techniques applied to non-test problems.A. Gattiker. VTS, Seite 1-4. IEEE Computer Society, (2014)System-level impact of chip-level failure mechanisms and screens.A. Gattiker. ICCAD, Seite 173-176. IEEE, (2010)Guest Editor's Introduction: Getting More Out of Test.A. Gattiker. IEEE Design & Test of Computers, 24 (5): 474-475 (2007)The 12-Core POWER8™ Processor With 7.6 Tb/s IO Bandwidth, Integrated Voltage Regulation, and Resonant Clocking.E. Fluhr, S. Baumgartner, D. Boerstler, J. Bulzacchelli, T. Diemoz, D. Dreps, G. English, J. Friedrich, A. Gattiker, T. Gloekler und 20 andere Autor(en). IEEE J. Solid State Circuits, 50 (1): 10-23 (2015)