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Back-End-of-Line Defect Analysis for Rnv8T Nonvolatile SRAM.

B. Bai, C. Hsu, M. Wu, C. Chen, Y. Chen, K. Luo, L. Cheng, und J. Li. Asian Test Symposium, Seite 123-127. IEEE Computer Society, (2013)

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Hanchuan Wu University of Stuttgart

Yongxiang Wu University of Stuttgart

Tim Würtele University of Stuttgart

Amelie Wührl University of Stuttgart

PD Dr. phil. Joachim Wündisch University of Stuttgart

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