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Leakage current, active power, and delay analysis of dynamic dual Vt CMOS circuits under P-V-T fluctuations.

J. Wang, N. Gong, L. Hou, X. Peng, R. Sridhar, und W. Wu. Microelectronics Reliability, 51 (9-11): 1498-1502 (2011)

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Dr. rer. nat. Lei Wang University of Stuttgart

Zhe Wang University of Stuttgart

Dr. Dongren Wang University of Stuttgart

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