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EffiTest2: Efficient Delay Test and Prediction for Post-Silicon Clock Skew Configuration Under Process Variations.

G. Zhang, B. Li, Y. Shi, J. Hu, und U. Schlichtmann. IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 38 (4): 705-718 (2019)

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Abhishekkumar Shingala University of Stuttgart

Ashkan Shiravand University of Stuttgart

Elizaveta Shishova University of Stuttgart

Lei Shi University of Stuttgart

Dachuan Shi University of Stuttgart

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