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Reliability of 8Mbit Embedded-STT-MRAM in 28nm FDSOI Technology.

Y. Ji, H. Goo, J. Lim, S. Lee, S. Lee, T. Uemura, J. Park, S. Han, S. Shin, J. Lee, Y. Song, K. Lee, H. Shin, S. Hwang, B. Seo, Y. Lee, J. Kim, G. Koh, K. Park, S. Pae, G. Jeong, J. Yoon, und E. Jung. IRPS, Seite 1-3. IEEE, (2019)

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Moosung Lee University of Stuttgart

Dongwon Lee University of Stuttgart

Junghwa Lee University of Stuttgart

Ph. D. Benjamin Lee University of Stuttgart

S. Schumann

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