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On Optimal Power-Aware Path Sensitization

M. Sauer, J. Jiang, S. Reimer, K. Miyase, X. Wen, B. Becker, und I. Polian. 2016 IEEE 25th Asian Test Symposium (ATS), Seite 179-184. Piscataway, IEEE, (2016)
DOI: 10.1109/ATS.2016.63

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