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Analysis of EL Emitted by LEDs on Si Substrates Containing GeSn/Ge Multi Quantum Wells as Active Layers

B. Schwartz, P. Saring, T. Arguirov, M. Oehme, K. Kostecki, E. Kasper, J. Schulze, und M. Kittler. Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XVI, 242, Seite 361-367. Pfaffikon, Trans Tech Publications, (2016)
DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.242.361

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Martin Baumann

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