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Analysis of 28 nm SRAM cell stability under mechanical load applied by nanoindentation.

A. Clausner, S. Schlipf, G. Kurz, M. Otto, J. Paul, K. Giering, J. Warmuth, A. Lange, R. Jancke, A. Aal, R. Rosenkranz, M. Gall, und E. Zschech. IRPS, Seite 5. IEEE, (2018)

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M. Otto

Normalverbraucher Otto

Univ. -Prof. Dr. Otto Eggenberger University of Stuttgart

Nikolai Otto University of Stuttgart

M. Nudischer

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