Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Chinese Preschoolers as Design Partners - Lessons Learned.

J. Liu, und V. Roto. CHI Extended Abstracts, Seite 951-958. ACM, (2017)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Jan Liu University of Stuttgart

M.Sc. Zhuoran Liu University of Stuttgart

Anji Liu University of Stuttgart

Dexing Liu University of Stuttgart

Yanchao Liu University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

TCvBsISM: Texture Classification via B-Splines-Based Image Statistical Modeling.J. Liu, J. He, W. Zhang, P. Xu, und Z. Tang. IEEE Access, (2018)Characterization of Complex Image Spatial Structures Based on Symmetrical Weibull Distribution Model for Texture Pattern Classification.J. Liu, J. He, Z. Tang, P. Xu, W. Zhang, und W. Gui. Complexity, (2018)Toward Automated Quality Classification via Statistical Modeling of Grain Images for Rice Processing Monitoring.J. Liu, Z. Tang, Q. Chen, P. Xu, W. Liu, und J. Zhu. Int. J. Comput. Intell. Syst., 9 (1): 120-132 (2016)Machine Vision Based Production Condition Classification and Recognition for Mineral Flotation Process Monitoring.J. Liu, W. Gui, Z. Tang, H. Hu, und J. Zhu. Int. J. Comput. Intell. Syst., 6 (5): 969-986 (2013)Code Churn: A Neglected Metric in Effort-Aware Just-in-Time Defect Prediction.J. Liu, Y. Zhou, Y. Yang, H. Lu, und B. Xu. ESEM, Seite 11-19. IEEE Computer Society, (2017)Effort-aware just-in-time defect prediction: simple unsupervised models could be better than supervised models.Y. Yang, Y. Zhou, J. Liu, Y. Zhao, H. Lu, L. Xu, B. Xu, und H. Leung. SIGSOFT FSE, Seite 157-168. ACM, (2016)ANID-SEoKELM: Adaptive network intrusion detection based on selective ensemble of kernel ELMs with random features.J. Liu, J. He, W. Zhang, T. Ma, Z. Tang, J. Niyoyita, und W. Gui. Knowl.-Based Syst., (2019)MAT: A simple yet strong baseline for identifying self-admitted technical debt.Z. Guo, S. Liu, J. Liu, Y. Li, L. Chen, H. Lu, Y. Zhou, und B. Xu. CoRR, (2019)Chinese Preschoolers as Design Partners - Lessons Learned.J. Liu, und V. Roto. CHI Extended Abstracts, Seite 951-958. ACM, (2017)Texture pattern classification based on probability density function estimation of the image spatial structure feature with symmetrical weibull distribution model.J. Liu, J. He, W. Zhang, Z. Tang, P. Xu, und W. Gui. Multimedia Tools Appl., 78 (9): 12251-12279 (2019)