Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Resistive-open defect influence in SRAM pre-charge circuits: analysis and characterization.

L. Dilillo, P. Girard, S. Pravossoudovitch, A. Virazel, und M. Hage-Hassan. European Test Symposium, Seite 116-121. IEEE Computer Society, (2005)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Patrick Gralka University of Stuttgart

Patrick Maisenhölder University of Stuttgart

Patrick Lerge University of Stuttgart

Patrick Hippold University of Stuttgart

Patrick Mesmer University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Controlling Peak Power Consumption During Scan Testing: Power-Aware DfT and Test Set Perspectives.N. Badereddine, P. Girard, A. Virazel, S. Pravossoudovitch, und C. Landrault. PATMOS, Volume 3728 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 540-549. Springer, (2005)Agent-Based Architecture for Interactive System Design: Current Approaches, Perspectives and Evaluation.C. Kolski, P. Forbrig, B. David, P. Girard, C. Tran, und H. Ezzedine. HCI (1), Volume 5610 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 624-633. Springer, (2009)Logical dynamics of belief change in the community.F. Liu, J. Seligman, und P. Girard. Synthese, 191 (11): 2403-2431 (2014)Vérification de cohérence entre modèles de tâches et de dialogue en conception centrée-utilisateur.S. Caffiau, P. Girard, L. Guittet, und X. Blanc. Ingénierie des Systèmes d'Information, 16 (5): 9-41 (2011)Delay-Fault Diagnosis by Critical-Path Tracing.P. Girard, C. Landrault, und S. Pravossoudovitch. IEEE Design & Test of Computers, 9 (4): 27-32 (1992)A Layout-Aware Pattern Grading Procedure for Critical Paths Considering Power Supply Noise and Crosstalk.J. Ma, M. Tehranipoor, und P. Girard. J. Electronic Testing, 28 (2): 201-214 (2012)Efficient March Test Procedure for Dynamic Read Destructive Fault Detection in SRAM Memories.L. Dilillo, P. Girard, S. Pravossoudovitch, A. Virazel, S. Borri, und M. Hage-Hassan. J. Electronic Testing, 21 (5): 551-561 (2005)A Ring Architecture Strategy for BIST Test Pattern Generation.C. Fagot, O. Gascuel, P. Girard, und C. Landrault. J. Electronic Testing, 19 (3): 223-231 (2003)A Scan-BIST Structure to Test Delay Faults in Sequential Circuits.P. Girard, C. Landrault, V. Moreda, S. Pravossoudovitch, und A. Virazel. J. Electronic Testing, 14 (1-2): 95-102 (1999)An advanced diagnostic method for delay faults in combinational faulty circuits.P. Girard, C. Landrault, und S. Pravossoudovitch. J. Electronic Testing, 6 (3): 277-294 (1995)