Autor der Publikation

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

A Self-Repairing Execution Unit for Microprogrammed Processors., , und . IEEE Micro, 21 (5): 16-22 (2001)Efficient multi-level fault simulation of HW/SW systems for structural faults., , , , , , , und . SCIENCE CHINA Information Sciences, 54 (9): 1784-1796 (2011)Hardware Test: Can We Learn from Software Testing?, , , , , , und . VTS, Seite 320-321. IEEE Computer Society, (1997)An Optimal Algorithm for the Automatic Generation of March Tests., , , und . DATE, Seite 938-943. IEEE Computer Society, (2002)STT MRAM-Based PUFs., , , und . DATE, Seite 872-875. ACM, (2015)Guest Editorial., und . J. Electronic Testing, 17 (3-4): 207 (2001)PART: Programmable Array Testing Based on a Partitioning Algorithm., , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 3 (2): 142-149 (1984)Design and optimization of adaptable BCH codecs for NAND flash memories., , , und . Microprocessors and Microsystems - Embedded Hardware Design, 37 (4-5): 407-419 (2013)Functional testing approaches for "BIFST-able" tlm_fifo., , , , und . HLDVT, Seite 85-92. IEEE Computer Society, (2008)An experimental analysis of the effectiveness of the circular self-test path technique., , und . EURO-DAC, Seite 246-251. IEEE Computer Society, (1994)