Autor der Publikation

Effects of pupil discretization and Littrow illumination in the simulation of bright-field defect detection

, , , , , und . Optics Letters, 34 (12): 1840--1842 (2009)
DOI: 10.1364/OL.34.001840

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Inverse calculation of position and tilt errors of optical components from wavefront data, , , , und . Proc. SPIE, (2011)Simulations of Scatterometry Down to 22 nm Structure Sizes and Beyond with Special Emphasis on LER, , , , und . AIP Proc., 1173 (1): 371--378 (2009)White-light Mueller-matrix Fourier scatterometry for the characterization of nanostructures with large parameter spaces, , und . Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXXIV, 11325, Seite 113250V. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2020)Design of high-transmission metallic meander stacks with different grating periodicities for subwavelength-imaging applications, , , , , und . Optics Express, (2011)Normal vector method for the RCWA with automated vector field generation, , , , und . Optics Express, (2008)Detection of grating asymmetries by phase-structured illumination, , , , und . Fifth International Conference on Optical and Photonics Engineering, 10449, Seite 104490C. International Society for Optics and Photonics, SPIE, (2017)Polarization scramblers with plasmonic meander-type metamaterials, , , , , , , und . Opt. Express, (2012)Effects of pupil discretization and Littrow illumination in the simulation of bright-field defect detection, , , , , und . Optics Letters, 34 (12): 1840--1842 (2009)Modellgestützte Rekonstruktion der Lage von dezentrierten Linsen in optischen Systemen, , , und . DGaO-Proceedings, (2010)Influence of line edge roughness (LER) on angular resolved and on spectroscopic scatterometry, , , und . Proc. SPIE, (2008)