Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

PerCom 2008 special issue

M. Mutka, C. Becker, A. Dey, F. Lau, und G. Záruba. Pervasive and Mobile Computing, 4 (6): 789-790 (2008)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

F. Dörr

F. Laufer

F. Rusitschka

Franziska Lauth University of Stuttgart

Simone Lauterbach University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

PerCom 2008 special issueM. Mutka, C. Becker, A. Dey, F. Lau, und G. Záruba. Pervasive and Mobile Computing, 4 (6): 789-790 (2008)Message from the program chair and vice chairsM. Mutka, C. Becker, A. Dey, F. Lau, und G. Záruba. 6th Annual IEEE International Conference on Pervasive Computing and Communications, PerCom 2008, (2008)On Partitioning the Domain for Test Case Reusability (Short Paper).Y. Dong, M. Lau, und S. yu Lin. QSIC, Seite 264-269. IEEE Computer Society, (2008)Dissociating N400 Effects of Prediction from Association in Single-word Contexts.E. Lau, P. Holcomb, und G. Kuperberg. J. Cognitive Neuroscience, 25 (3): 484-502 (2013)Objective speech quality measure for cellular phone.K. Lam, O. Au, C. Chan, K. Hui, und S. Lau. ICASSP, Seite 487-490. IEEE Computer Society, (1996)Design of a multi-purpose fragment screening library using molecular complexity and orthogonal diversity metrics.W. Lau, J. Withka, D. Hepworth, T. Magee, Y. Du, G. Bakken, M. Miller, Z. Hendsch, V. Thanabal, S. Kolodziej und 8 andere Autor(en). Journal of Computer-Aided Molecular Design, 25 (7): 621-636 (2011)Electrical behavior of Au-Ge eutectic solder under aging for solder bump application in high temperature Electronics.F. Lau, R. Made, W. Putra, J. Lim, V. Nachiappan, J. Aw, und C. Gan. Microelectronics Reliability, 53 (9-11): 1581-1586 (2013)Experiments on Test Case Reuse of Test Coverage Criteria.Y. Dong, Y. Wang, M. Lau, und S. yu Lin. UIC/ATC Workshops, Seite 277-281. IEEE Computer Society, (2010)Objective speech measure for Chinese in wireless environment.K. Lam, O. Au, C. Chan, K. Hui, und S. Lau. ICASSP, Seite 277-280. IEEE Computer Society, (1995)Disfluencies, language comprehension, and Tree Adjoining Grammars.F. Ferreira, E. Lau, und K. Bailey. Cognitive Science, 28 (5): 721-749 (2004)