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LIFTING: A Flexible Open-Source Fault Simulator., und . ATS, Seite 35-40. IEEE Computer Society, (2008)Automatic March tests generation for static and dynamic faults in SRAMs., , , , und . European Test Symposium, Seite 122-127. IEEE Computer Society, (2005)Scan-chain intra-cell defects grading., , , , , , und . DTIS, Seite 1-6. IEEE, (2015)Memristive devices: Technology, design automation and computing frontiers., , , , , und . DTIS, Seite 1-8. IEEE, (2017)An effective approach for functional test programs compaction., , , , , und . DDECS, Seite 119-124. IEEE, (2016)Towards digital circuit approximation by exploiting fault simulation., , , , und . EWDTS, Seite 1-7. IEEE Computer Society, (2017)Parity prediction synthesis for nano-electronic gate designs., , , , , , und . ITC, Seite 820. IEEE Computer Society, (2010)SyRA: Early System Reliability Analysis for Cross-Layer Soft Errors Resilience in Memory Arrays of Microprocessor Systems., , , , , , , , , und 4 andere Autor(en). IEEE Trans. Computers, 68 (5): 765-783 (2019)Low-power SRAMs power mode control logic: Failure analysis and test solutions., , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE Computer Society, (2012)Failure Analysis and Test Solutions for Low-Power SRAMs., , , , , , , und . Asian Test Symposium, Seite 459-460. IEEE Computer Society, (2011)