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TRAMS Project: Variability and Reliability of SRAM Memories in sub-22 nm Bulk-CMOS Technologies.

R. Canal, A. Rubio, A. Asenov, A. Brown, M. Miranda, P. Zuber, A. González, und X. Vera. FET, Volume 7 von Procedia Computer Science, Seite 148-149. Elsevier, (2011)

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Vera Dworaczyk University of Stuttgart

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