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Gate oxide trap characterization under DC and pulse stress.

S. Park, J. Lee, Y. Ryu, J. Kang, B. So, und D. Baek. ICECS, Seite 289-292. IEEE, (2010)

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M.Sc Yeonse Kang University of Stuttgart

J. K\"astner

J. Schwarz

J. K\"astner

J Walter

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