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Variability Aware Sub-Wavelength Lithography Characterization for Robust SRAM Design.

P. Dobrovolný, M. Miranda, und P. Zuber. ARCS Workshops, VDE-Verlag, (2011)

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Dr. rer. nat. Petr Siyushev University of Stuttgart

Dr. rer. pol. Dimitri Petrik University of Stuttgart

Jona Petri University of Stuttgart

Aleko Petrov

Dr. Taras Petrenko University of Stuttgart

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