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Fast chip aging prediction by product-like VMIN drift characterization on test structures.

S. Liu, G. Chen, M. Chen, D. Yen, W. Kuo, C. Fu, Y. Tsai, M. Lin, Y. Fang, und M. Lin. IRPS, Seite 3. IEEE, (2018)

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G. Daiß

G. Wagner

Hong Chen University of Stuttgart

Yiyin Chen University of Stuttgart

Jun Chen University of Stuttgart

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