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Automated Diagnosis and Probing Flow for Fast Fault Localization in IC.

D. Martin, R. Desplats, G. Haller, P. Nouet, und F. Azaïs. Microelectronics Reliability, 44 (9-11): 1553-1558 (2004)

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Gerald Stöckl University of Stuttgart

Gerald Blessing University of Stuttgart

Dr. -Ing. Gerald Gangl University of Stuttgart

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