PUMA

Akademisches Publikationsmanagement
Publikationen sammeln, verwalten und teilen.

( en | de )

 

Disambiguierung von "Rajski, Janusz"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
DPPM Reduction Methods and New Defect Oriented Test Methods Applied to Advanced FinFET Technologies.

, , , , , , , , , und . ITC, Seite 1-10. IEEE, (2018)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Keine Personen gefunden für den Autorennamen Rajski, Janusz
Eine Person hinzufügen mit dem Namen Rajski, Janusz
 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

On Linear Dependencies in Subspaces of LFSR-Generated Sequences., und . IEEE Trans. Computers, 45 (10): 1212-1216 (1996)High Performance Dense Ring Generators., , , und . IEEE Trans. Computers, 55 (1): 83-87 (2006)EDT Bandwidth Management in SoC Designs., , , , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 31 (12): 1894-1907 (2012)High Volume Diagnosis in Memory BIST Based on Compressed Failure Data., , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 29 (3): 441-453 (2010)Cell-Aware Test., , , , , , , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 33 (9): 1396-1409 (2014)Built-In Self-Test for Systems on Silicon., , und . VLSI Design, Seite 609-610. IEEE Computer Society, (1999)Embedded tutorials: Embedded tutorial 1: Cell-aware test-from gates to transistors., , , , , , und . VLSI-SoC, IEEE, (2013)Delay Fault Diagnosis Using Timing Information., , , und . ISQED, Seite 485-490. IEEE Computer Society, (2004)Linear Independence as Evaluation Criterion for Two-Dimensional Test Pattern Generators., , und . VTS, Seite 377-388. IEEE Computer Society, (2000)A self-driven test structure for pseudorandom testing of non-scan sequential circuits., und . VTS, Seite 17-25. IEEE Computer Society, (1996)