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Disambiguierung von "Rodríguez-Montañés, Rosa"

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BIST Technique by Equally Spaced Test Vector Sequences.

, , , , , , und . VTS, Seite 206-216. IEEE Computer Society, (2004)

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Nelson Rosa University of Stuttgart

Ana Rodriguez Quiroga University of Stuttgart

Rocio Belen Rodriguez University of Stuttgart

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Gate Leakage Impact on Full Open Defects in Interconnect Lines., , , , , und . IEEE Trans. VLSI Syst., 19 (12): 2209-2220 (2011)Analysis of Bridging Defects in Sequential CMOS Circuits and their Current Testability., und . EDAC-ETC-EUROASIC, Seite 356-360. IEEE Computer Society, (1994)Estimation of the Defective IDDQ Caused by Shorts in Deep-Submicron CMOS ICs., und . DATE, Seite 490-494. IEEE Computer Society, (1998)Bridging Defects Resistance Measurements in a CMOS Process., , und . ITC, Seite 892-899. IEEE Computer Society, (1992)Low Cost AES Protection Against DPA Using Rolling Codes., , , , und . DCIS, Seite 1-6. IEEE, (2021)Quiescent current analysis and experimentation of defective CMOS circuits., , , , und . J. Electronic Testing, 3 (4): 337-348 (1992)Power-aware voltage tuning for STT-MRAM reliability., , , , , , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2015)Post-bond test of Through-Silicon Vias with open defects., , und . ETS, Seite 1-6. IEEE, (2014)Test Escapes of Stuck-Open Faults Caused by Parasitic Capacitances and Leakage Currents., , und . IEEE Trans. VLSI Syst., 24 (5): 1739-1748 (2016)Delay caused by resistive opens in interconnecting lines., , und . Integration, 42 (3): 286-293 (2009)