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Process dependence of BTI reliability in advanced HK MG stacks.

X. Garros, M. Casse, M. Rafik, C. Fenouillet-Béranger, G. Reimbold, F. Martin, C. Wiemer, und F. Boulanger. Microelectronics Reliability, 49 (9-11): 982-988 (2009)

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F. D{\"o}rr

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