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Monolithic Integration of Gesn on Si for IR Camera Demonstration

M. Oehme, Z. Yu, M. Wanitzek, S. Epple, L. Schad, M. Hack, J. Burghartz, D. Schwarz, und M. Kaschel. ECS Meeting Abstracts, MA2022-02 (32): 1169 (Oktober 2022)
DOI: 10.1149/MA2022-02321169mtgabs

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