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Defect Characterization and Tolerance of QCA Sequential Devices and Circuits., , und . DFT, Seite 199-207. IEEE Computer Society, (2005)Defect Characterization for Scaling of QCA Devices., , , und . DFT, Seite 30-38. IEEE Computer Society, (2004)Defect tolerance of QCA tiles., , und . DATE, Seite 774-779. European Design and Automation Association, Leuven, Belgium, (2006)Defects and Faults in Quantum Cellular Automata at Nano Scale., , , und . VTS, Seite 291-296. IEEE Computer Society, (2004)An Overview of Nanoscale Devices and Circuits., , und . IEEE Design & Test of Computers, 24 (4): 304-311 (2007)Emulating Shared-Memory Do-All Algorithms in Asynchronous Message-Passing Systems., , und . OPODIS, Volume 3144 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 210-222. Springer, (2003)Emulating shared-memory Do-All algorithms in asynchronous message-passing systems., , und . J. Parallel Distrib. Comput., 70 (6): 699-705 (2010)Analysis of missing and additional cell defects in sequential quantum-dot cellular automata., , und . Integration, 40 (4): 503-515 (2007)On the Tolerance to Manufacturing Defects in Molecular QCA Tiles for Processing-by-wire., , und . J. Electronic Testing, 23 (2-3): 163-174 (2007)Modeling QCA Defects at Molecular-level in Combinational Circuits., , und . DFT, Seite 208-216. IEEE Computer Society, (2005)