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Tetracene film morphology: Comparative atomic force microscopy, X-ray diffraction and ellipsometry investigations

B. Gompf, D. Faltermeier, C. Redling, M. Dressel, und J. Pflaum. The European Physical Journal E, (Dezember 2008)
DOI: 10.1140/epje/i2008-10405-5

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Daniel Pflaum University of Stuttgart

J. K\"astner

J. Schwarz

J. K\"astner

J Walter

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