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Characterization of Fe Micromagnets for Semiconductor Spintronics by In-Field Magnetic Force Microscopy

H. Funk, D. Weißhaupt, D. Schwarz, D. Bloos, J. Van Slageren, und J. Schulze. 2021 44th International Convention on Information, Communication and Electronic Technology (MIPRO), Seite 31-35. (September 2021)
DOI: 10.23919/MIPRO52101.2021.9596763

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