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GeSn-on-Si normal incidence photodetectors with bandwidths more than 40 GHz

M. Oehme, K. Kostecki, K. Ye, S. Bechler, K. Ulbricht, M. Schmid, M. Kaschel, M. Gollhofer, R. Körner, W. Zhang, E. Kasper, und J. Schulze. Optics Express, 22 (1): 839-846 (2014)
DOI: 10.1364/OE.22.000839

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Dr. -Ing. Jing Zhang University of Stuttgart

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