Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

Formal Test Point Insertion for Region-based Low-Capture-Power Compact At-Speed Scan Test.

S. Eggersglüß, S. Holst, D. Tille, K. Miyase, und X. Wen. ATS, Seite 173-178. IEEE Computer Society, (2016)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Dr. -Ing. Stephan Klamert University of Stuttgart

Univ. -Prof. a. D. Dr. -Ing. Karl Stephan University of Stuttgart

Dr. -Ing. Stephan Heimerl University of Stuttgart

Silke Stephan University of Stuttgart

Stephan Renninger University of Stuttgart

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

SAT-based post-processing for regional capture power reduction in at-speed scan test generation.S. Eggersglüß, K. Miyase, und X. Wen. ETS, Seite 1-6. IEEE, (2016)Cluster-based Localization of IR-drop in Test Application considering Parasitic Elements.H. Dhotre, S. Eggersglüß, und R. Drechsler. LATS, Seite 1-4. IEEE, (2019)A Highly Fault-Efficient SAT-Based ATPG Flow.S. Eggersglüß, und R. Drechsler. IEEE Design & Test of Computers, 29 (4): 63-70 (2012)Combining Multi-Valued Logics in SAT-based ATPG for Path Delay Faults.S. Eggersglüß, G. Fey, R. Drechsler, A. Glowatz, F. Hapke, und J. Schlöffel. MEMOCODE, Seite 181-187. IEEE Computer Society, (2007)Optimization of retargeting for IEEE 1149.1 TAP controllers with embedded compression.S. Huhn, S. Eggersglüß, K. Chakrabarty, und R. Drechsler. DATE, Seite 578-583. IEEE, (2017)Increasing Robustness of SAT-based Delay Test Generation Using Efficient Dynamic Learning Techniques.S. Eggersglüß, und R. Drechsler. European Test Symposium, Seite 81-86. IEEE Computer Society, (2009)SAT-based ATPG for Path Delay Faults in Sequential Circuits.S. Eggersglüß, G. Fey, und R. Drechsler. ISCAS, Seite 3671-3674. IEEE, (2007)PASSAT 2.0: A multi-functional SAT-based testing framework.R. Drechsler, M. Diepenbeck, S. Eggersglüß, und R. Wille. LATW, Seite 1. IEEE Computer Society, (2013)Formal Verification on the Word Level using SAT-like Proof Techniques.G. Fey, D. Große, S. Eggersglüß, R. Wille, und R. Drechsler. MBMV, Seite 81-90. Shaker, (2007)High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability.S. Eggersglüß, und R. Drechsler. Springer, (2012)