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Impact of the Trap Attributes on the Gate Leakage Mechanisms in a 2D MS-EMC Nanodevice Simulator.

C. Medina-Bailon, T. Sadi, C. Sampedro, J. Padilla, L. Donetti, V. Georgiev, F. Gámiz, und A. Asenov. NMA, Volume 11189 von Lecture Notes in Computer Science, Seite 273-280. Springer, (2018)

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