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Interconnect coupling-aware driver modeling in static noise analysis for nanometer circuits.

X. Bai, R. Chandra, S. Dey, und P. Srinivas. IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 23 (8): 1256-1263 (2004)

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Dr. phil. Rukmani Bai University of Stuttgart

Prof. iR Dr. -Ing. Utz Baitinger University of Stuttgart

Isela Bailey Loya University of Stuttgart

Apl. Prof. Dr. Susanne Bailer University of Stuttgart

Alexandra Baier University of Stuttgart

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