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A method to eliminate the event accumulation problem from a memory affected by multiple bit upsets.

J. Maestro, und P. Reviriego. Microelectronics Reliability, 49 (7): 707-715 (2009)

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Antonio Raiolo University of Stuttgart

Juan Vargas University of Stuttgart

Giuliano Antonio Giacoppo University of Stuttgart

Jose Juan Jeronimo Rendon University of Stuttgart

Ph. D. Juan Esteban Martinez Jaramillo University of Stuttgart

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