Autor der Publikation

Kopieren Löschen Diese Publikation zur Ablage hinzufügen
Community-Eintrag
Versionsverlauf dieses Eintrags
URL
DOI
BibTeX
EndNote
APA
Chicago
DIN 1505
Harvard
MSOffice XML

CATAPULT: Concurrent Automatic Testing Allowing Parallelization and Using Limited Topology.

R. Gaede, D. Ross, M. Mercer, und K. Butler. DAC, Seite 597-600. (1988)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

M. Fittingho

M. Nudischer

M. Kratzer

M. Liewald

M. Christmann

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Minimizing Defective Part Level Using a Linear Programming-Based Optimal Test Selection Method.Y. Tian, M. Grimaila, W. Shi, und M. Mercer. Asian Test Symposium, Seite 354-359. IEEE Computer Society, (2003)REDO - Probabilistic Excitation and Deterministic Observation - First Commercial Experimen.M. Grimaila, S. Lee, J. Dworak, K. Butler, B. Stewart, H. Balachandran, B. Houchins, V. Mathur, J. Park, L. Wang und 1 andere Autor(en). VTS, Seite 268-274. IEEE Computer Society, (1999)Analysis of Delay Test Effectiveness with a Multiple-Clock Scheme.J. Liou, L. Wang, K. Cheng, J. Dworak, M. Mercer, R. Kapur, und T. Williams. ITC, Seite 407-416. IEEE Computer Society, (2002)Testing Issues at the University of Texas.M. Mercer. ITC, Seite 158-159. IEEE Computer Society, (1983)Calculation of Greatest Lower Bounds Obtainable by the Cutting Algorithm.R. Gaede, M. Mercer, und B. Underwood. ITC, Seite 498-505. IEEE Computer Society, (1986)Deterministic Versus Random Testing.V. Agrawal, und M. Mercer. ITC, Seite 718. IEEE Computer Society, (1986)Fortuitous Detection and its Impact on Test Set Sizes Using Stuck-at and Transition Faults.J. Dworak, J. Wingfield, B. Cobb, S. Lee, L. Wang, und M. Mercer. DFT, Seite 177-185. IEEE Computer Society, (2002)Guest Editorial: ITC 20th Anniversary.M. Mercer. IEEE Design & Test of Computers, 7 (2): 2-3 (1990)Statistical Delay Fault Coverage and Defect Level for Delay Faults.E. Park, T. Williams, und M. Mercer. ITC, Seite 492-499. IEEE Computer Society, (1988)Combinational circuit ATPG using binary decision diagrams.S. Srinivasan, G. Swaminathan, J. Aylor, und M. Mercer. VTS, Seite 251-258. IEEE Computer Society, (1993)