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Promoting of charged-device model/electrostatic discharge immunity in the dicing saw process.

M. Wang, C. Liu, K. Huang, Z. Hsieh, S. Chen, H. Yang, und C. Lin. Microelectronics Reliability, 50 (6): 839-846 (2010)

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Yayi Lin University of Stuttgart

Estefania Linuesa Torrijos University of Stuttgart

Hendrik Linder University of Stuttgart

Robert Lindemann University of Stuttgart

Doris Lindner University of Stuttgart

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