PUMA

Akademisches Publikationsmanagement
Publikationen sammeln, verwalten und teilen.

( en | de )

 

Disambiguierung von "Touba, Nur A."

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Improving Memory Repair by Selective Row Partitioning.

, , und . DFT, Seite 211-219. IEEE Computer Society, (2009)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

A. Laukemann

apl. Prof. Dr. -Ing. Ulf Nürnberger University of Stuttgart

A. Laukemann

A. Laukemann

A. Vo{\ss}

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Reducing Test Power During Test Using Programmable Scan Chain Disable., und . DELTA, Seite 159-166. IEEE Computer Society, (2002)Synthesis of Low-Cost Parity-Based Partially Self-Checking Circuits., , , und . IOLTS, Seite 35-. IEEE Computer Society, (2003)A methodology for automated insertion of concurrent error detection hardware in synthesizable Verilog RTL., , und . ISCAS (1), Seite 577-580. IEEE, (2002)Relating entropy theory to test data compression., und . European Test Symposium, Seite 94-99. IEEE Computer Society, (2004)Scan-Based BIST Diagnosis Using an Embedded Processor., und . DFT, Seite 209-216. IEEE Computer Society, (2003)Partial Error Masking to Reduce Soft Error Failure Rate in Logic Circuits., und . DFT, Seite 433-. IEEE Computer Society, (2003)Logic synthesis of multilevel circuits with concurrent error detection., und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 16 (7): 783-789 (1997)Circular BIST with state skipping.. IEEE Trans. VLSI Syst., 10 (5): 668-672 (2002)Guest Editorial., , und . J. Electronic Testing, 24 (1-3): 9-10 (2008)Synthesis of Circuits with Low-Cost Concurrent Error Detection Based on Bose-Lin Codes., und . J. Electronic Testing, 15 (1-2): 145-155 (1999)