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Measurement of stress-induced birefringence in a thin-disk laser with full-Stokes polarimetry

J. Dominik, M. Scharun, B. Dannecker, V. Bühner, K. Ertel, D. Bauer, und T. Dekorsy. Applied optics, 61 (17): 4986-4992 (2022)
DOI: 10.1364/AO.457145

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Benjamin Rothaupt

Dr. phil. Benjamin Holfelder University of Stuttgart

Benjamin Bursik University of Stuttgart

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