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Special section reliability and variability of devices for circuits and systems.

A. Asenov, U. Schlichtmann, C. Tan, H. Wong, und X. Zhou. Microelectronics Reliability, 54 (6-7): 1057 (2014)

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King Cho Wong University of Stuttgart

Andrea Hein

Brigitte Heintz-Cuscianna University of Stuttgart

Simon Heimbach University of Stuttgart

Dr. rer. nat. Eric Heintze University of Stuttgart

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