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Efficient Multifrequency Analysis of Fault Diagnosis in Analog Circuits Based on Large Change Sensitivity Computation.

T. Wei, M. Wong, und Y. Lee. Asian Test Symposium, Seite 232-237. IEEE Computer Society, (1996)

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Wei Yu University of Stuttgart

Dr. rer. nat. Ran Wei University of Stuttgart

Wei Zhang University of Stuttgart

Li-Wei Chen University of Stuttgart

Fiona Jacqueline Weiß University of Stuttgart

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