PUMA

Akademisches Publikationsmanagement
Publikationen sammeln, verwalten und teilen.

( en | de )

 

Disambiguierung von "Polian, Ilia"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Resistive Bridge Fault Model Evolution from Conventional to Ultra Deep Submicron Technologies.

, , , , , und . VTS, Seite 343-348. IEEE Computer Society, (2005)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Univ. -Prof. Dr. rer. nat. Ilia Polian University of Stuttgart

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Protecting cryptographic hardware against malicious attacks by nonlinear robust codes., , , , und . DFT, Seite 40-45. IEEE Computer Society, (2014)Power Supply Noise: Causes, Effects, and Testing.. J. Low Power Electronics, 6 (2): 326-338 (2010)Pre-characterization procedure for a mixed mode simulation of IR-drop induced delays., , , , , , und . LATW, Seite 1-6. IEEE Computer Society, (2013)Nichtstandardfehlermodelle für digitale Logikschaltkreise: Simulation, prüfgerechter Entwurf, industrielle Anwendungen (On Non-standard Fault Models for Logic Digital Circuits: Simulation, Design for Testability, Industrial Applications).. it - Information Technology, 47 (3): 172-174 (2005)Hardware security and test: Friends or enemies?. it - Information Technology, 56 (4): 192-202 (2014)Special session 4B: Panel low-power test and noise-aware test: Foes or friends?. VTS, Seite 130. IEEE Computer Society, (2010)Efficient SAT-based dynamic compaction and relaxation for longest sensitizable paths., , , , und . DATE, Seite 448-453. EDA Consortium San Jose, CA, USA / ACM DL, (2013)Diagnosis of Realistic Defects Based on the X-Fault Model., , , , , , , und . DDECS, Seite 263-266. IEEE Computer Society, (2008)Fault-based attacks on cryptographic hardware., und . DDECS, Seite 12-17. IEEE Computer Society, (2013)On Detection of Resistive Bridging Defects by Low-Temperature and Low-Voltage Testing., , , , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 27 (2): 327-338 (2008)