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Effects of thermal and electrical stress on DH4T-based organic thin-film-transistors with PMMA gate dielectrics.

N. Wrachien, N. Lago, A. Rizzo, R. D'Alpaos, A. Stefani, G. Turatti, M. Muccini, G. Meneghesso, und A. Cester. Microelectronics Reliability, 55 (9-10): 1790-1794 (2015)

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Machine learning methods for modeling turbulence in Large Eddy SimulationsM. Kurz. Universität Stuttgart, München, Dissertation, (2024)

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