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A Wiener-Process-Model-Based Method for Remaining Useful Life Prediction Considering Unit-to-Unit Variability.

N. Li, Y. Lei, T. Yan, N. Li, und T. Han. IEEE Trans. Industrial Electronics, 66 (3): 2092-2101 (2019)

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Dr. rer. nat. Lei Wang University of Stuttgart

Lei Shi University of Stuttgart

Tatsiana Leipi University of Stuttgart

Dr. Patrick Leiske University of Stuttgart

Valentin Leipe University of Stuttgart

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