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A stochastic process based reliability prediction method for LED driver.

B. Sun, X. Fan, W. van Driel, C. Cui, und G. Zhang. Rel. Eng. & Sys. Safety, (2018)

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D. Marino

Nina van den Daele University of Stuttgart

Dr. phil. Leo van Waveren University of Stuttgart

Dr. Thijs van Westen University of Stuttgart

Jan Vanvinkenroye University of Stuttgart

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