PUMA

Akademisches Publikationsmanagement
Publikationen sammeln, verwalten und teilen.

( en | de )

 

Disambiguierung von "Bhattacharya, Soumendu"

Autor der Publikation

KopierenLöschenDiese Publikation zur Ablage hinzufügen
Visualization in linear programming using parallel coordinates.

, , und . Pattern Recognition, 26 (11): 1725-1736 (1993)

Bitte wählen Sie eine Person um die Publikation zuzuordnen

Um zwischen Personen mit demselben Namen zu unterscheiden, wird der akademische Grad und der Titel einer wichtigen Publikation angezeigt. Zudem lassen sich über den Button neben dem Namen einige der Person bereits zugeordnete Publikationen anzeigen.

Satavisha Bhattacharya University of Stuttgart

Somnath Bhattacharya University of Stuttgart

 

Weitere Publikationen von Autoren mit dem selben Namen

Production Test Methods for Measuring 'Out-of-Band' Interference of Ultra Wide Band (UWB) Devices., und . VTS, Seite 137-142. IEEE Computer Society, (2005)Alternate Electrical Tests for Extracting Mechanical Parameters of MEMS Accelerometer Sensors., , und . VTS, Seite 192-199. IEEE Computer Society, (2006)Concurrent process model and specification cause-effect monitoring using alternate diagnostic signatures., , , und . VTS, Seite 337-342. IEEE Computer Society, (2010)Low Cost Parametric Failure Diagnosis of RF Transceivers., , , und . European Test Symposium, Seite 205-212. IEEE Computer Society, (2006)Automatic Multitone Alternate Test Generation For RF Circuits Using Behavioral Models., , und . ITC, Seite 665-673. IEEE Computer Society, (2003)Efficient Test Strategy for TDMA Power Amplifiers Using Transient Current Measurements: Uses and Benefit., , , und . DATE, Seite 280-285. IEEE Computer Society, (2004)Low-cost parametric test and diagnosis of RF systems using multi-tone response envelope detection., , und . IET Computers & Digital Techniques, 1 (3): 170-179 (2007)Low Cost EVM Testing of Wireless RF SoC Front-Ends Using Multitones., , , , , , , und . IEEE Trans. on CAD of Integrated Circuits and Systems, 31 (7): 1088-1101 (2012)A Built-In Loopback Test Methodology for RF Transceiver Circuits Using Embedded Sensor Circuits., und . Asian Test Symposium, Seite 68-73. IEEE Computer Society, (2004)Use of Embedded Sensors for Built-In-Test of RF Circuits., und . ITC, Seite 801-809. IEEE Computer Society, (2004)